 Nagyfelbontású 3D megfigyelés és
mérés valós időben
"3D egy gombnyomásra" képalkotó funkció
Nagyon megbízható finom felszíngörbe
mérés
Gyors és egyszerű kezelhetőség
Ismételhetőség |
|
LEXT OLS3100 - A következő lépés a 3D lézer konfokálsi metrológiában
Vásárlóinknak a gyorsabb és nagyobb teljesítménnyel, könnyebb kezelhetőséggel és nagyobb pontossággal szemben támasztott igényeinek kielégítése érdekében az Olympus kifejlesztette a LEXT konfokális lézer pásztázó mikroszkópot, amely a legmegbízhatóbban alkalmazható ultrapontos mérések és megfigyelések végrehajtására. Az új LEXT OLS3100 minimálisra csökkenti a manuális vezérlést, könnyítve a használhatóságot mindenki számra. Még azok is, akik első alkalommal használják a rendszert, könnyen tudják használi, gyors és megbízható eredményeket kapva. Az új rendszer jellemzői nem csupán a funkcionalitásban bővültek, hanem egyben a mérési teljesítmény egy magasabb szntjére is lép. A LEXT alkalmazások széles választékához kiváló finom felületprofil-mérő műszer. Mind 3D megfigyelésre, mind nagypontosságú 3D mérésre alkalmas valós időben. Kimagasló, 0.12 μm horizontális felbontásával és 120x-ostól 14.400x-osig terjedő nagyítási tartományával a LEXT mikroszkóp olyan kutatók számára készült, akik a hagyományos optikai mikroszkópok és a pásztázó elektronmikroszkópok (SEM) határai között végzik munkájukat. Az elektronmikroszkópokkal ellentétben a minta előkezelés nélkül, közvetlenül a mikroszkóp tárgyasztalára helyezhető. A LEXT ideális olyan mikroelektronikai eszközök ultrafinom felületeinek megfigyeléséhez és méréséhez, mint például a MEMS (Micro Electro Mechanical System/mikro-elektromechanikai rendszer), új anyagok fejlesztéséhez és napjaink kompaktabb felszíni szerelési igényű, vékonyabb eszközeihez.
|
