 |
Egykattintásos 3D 
A LEXT rendszerrel a 3D képalkotás egyetlen gombnyomásra elvégezhető a '3D capture' gomb használatával. A felső és alsó határ megadása szükségtelen, csakúgy, mint a fáradságos mintaelőkészítés. Egy kezdő felhasználó is könnyedén alkothat kiváló minőségű 3D képet. Gyakorlott felhasználók számára ezen tulajdonság csökkenti az erre fordítandó időt és nagyban javítja a munka hatékonyságát. |
|
 |
Display I - Vizsgálati Módszerek
A LEXT OLS3100 különböz vizsgálati módszereket tesz lehetővé az alkalmazások széles skálájának lefedéséhez.
- Világoslátóterű vizsgálat: a világoslátóterű vizsgálatból színi információ nyerhető, ezért hatékonyan használható szűrőhibák vizsgálatához vagy fémes korrózió helyének meghatározásához.
- DIC (Differential Interference Contrast) vizsgálat: a DIC vizsgálat alkalmas karcolások vagy apró (akár néhány nm magas) hibák vizsgálatához, amik hagyományos világoslátótérben nem látszanak
- LSM vizsgálat: a lézerpásztázó mód nagy felbontású képek elkészítését teszi lehetővé a 408nm-es lézerdióda és a konfokális optika használatával
- LSM DIC vizsgálat: az LSM DIC módban a felület mikroszkopikus gyenetlenségei vizsgálhatóak három dimenzióban, valós időben, ami nem lehetséges hagyományos lézermikroszkópokkal. A SEM-mel összemérhető dimenziós valósági szintű felületállapot-vizsgálat új lehetőségeket nyit a felületprofil-vizsgálatok terén.
|
|
 |
Display II - Szoftver Jellemzők
- Állítható 3D kép: A 3D kép szöge szabadon állítható az egér használatával. Ezen felül a 3D kép skálázható fel és le 100 lépésben az egér görőjének használatával. Utóbbi egy egyedülálló algoritmust használ, hogy a nagyított kép minősége ne romoljon. A háttér színe megváltoztatható, hogy a minta kontrasztja és vizsgálati körülménye optimális legyen.
|
|
 |
- 3D képmegjelenítési módok: számos 3D képmegjelenítési mód elérhető, köztük a textúra, valódi szín, rácsos szerkezet, stb. A 3D kép renderelhető hogy a látvány még hatékonyabb legyen a kiértékelés szempontjából.
|
|
 |
Világszínvonalú felbontás és pontosság
A kizárólag 408 nm -es lézerfényhez (ibolya) tervezett optikai rendszer kiküszöböli a rövid hullámhosszú fényforrásokhoz társuló aberrációk megjelenését és a legjobb teljesítmény hozza ki a 408 nm -es fényforrásból. Ezt a rendkívüli felbontóképességet az optimalizált köralakú pinhole-lal és az Olympus MEMS technológiájára épülő nagy sebességű XY-szkennerekkel szeret konfokális optikai rendszer teszi lehetővé. A világ legmagasabb szintű sík felbontása, 0.12 μm-es vonal vagy tér is feloldható. Ezen felül a 0.01 μm magassági felbotás támogatja a felhasználót a mikroszkópikus felületi profilokon végzett mérésekben. |
|
 |
Exkluzív lencsetervezés
Az apochromatikusan korrigált objektív lencse kizárólag konfokális lézerpásztázó mikroszkópokhoz lett kifejlesztve, ami jelentős mértékben javítja az optikai teljesítményt a 408 nm -es lézerfény használatakor. Az Olympus világszínvonalú technológiájával kifejlesztett speciális objektív lencse lehetővé teszi a legmagasabb szintű vizsgálati tisztaságot és mérési pontosságot nagy nagyítások esetén is. |
|
 |
Mérések, amikben bízhat
A nagy megbízhatóságú adatok egy szigorúan nyomonkövethető rendszerre épülnek,ami alapja a JCSS (Japan Calibration Service System). A távolságmérés valós időben elvégezhető az élőképen a kép intenzitásprofilja alapján. A 3D mérések, mint például a lépcsős magasság (step height), vonalszélesség és két pont közötti távolság elvégezhetőek a 3D képen, lehetővé téve a mérési kondíciók intuitív felismerését.
|
|
Nagyfelbontású 3D megfigyelés és
